Большая Советская Энциклопедия (БР) (БСЭ) - страница 265

  Соч.: X-ray and crystal structure, 4ed., L., 1924 (совм. с W. L. Bragg); в рус. пер. — В мире атомов и молекул, Л., 1926; Введение в анализ кристаллов, М. — Л., 1930; Мир звука, М. — Л., 1927; Мир света, М., 1935; История электромагнетизма, М. — Л., 1947.

  Лит.: Sir William Bragg …, «Nature», [L.], 1942, v. 139, № 3778.

У. Г. Брэгг.

Брэгг Уильям Лоренс

Брэгг (Bragg) Уильям Лоренс (р. 31.3.1890, Аделаида), английский физик, член Лондонского королевского общества (1921). Сын У. Г. Брэгга. Учился в Аделаидском (Австралия) и Кембриджском университетах. В 1919—37 профессор университета в Манчестере. В 1937—38 директор Национальной физической лаборатории; в 1938—53 директор Кавендишской лаборатории. В 1954—66 директор Королевского института в Кембридже. В 1913, одновременно с Г. В. Вульфом, дал уравнение, связывающее угол отклонения рентгеновских лучей, рассеянных кристаллом без изменения длины волны, с расстоянием между соседними атомными плоскостями в кристалле (см. Брэгга — Вульфа условие). Разработал методы расшифровки сложных кристаллических структур по интенсивности рентгеновского излучения, рассеянного кристаллом, и практически осуществил указанный У. Г. Брэггом способ определения структур при помощи рядов Фурье. Определил структуры многих силикатов. Нобелевская премия (1915).

  Соч. в рус. пер.: Структура силикатов, М. — Л., 1934; Рентгеновские лучи и строение кристаллов, М. — Л., 1929; Дифракция электронов, Л., 1936 (последние две работы совместно с У. Г. Брэггом).

У. Л. Брэгг.

Брэгга-Вульфа условие

Брэ'гга — Ву'льфа усло'вие, условие, определяющее положение интерференционных максимумов рентгеновских лучей, рассеянных кристаллом без изменения длины волны. Б.— В. у. установлено в 1913 независимо друг от друга английским учёным У. Л. Брэггом и русским учёным Г. В. Вульфом вскоре после открытия немецким учёным М. Лауэ и его сотрудниками дифракции рентгеновских лучей. Согласно теории Брэгга — Вульфа, максимумы возникают при отражении рентгеновских лучей от системы параллельных кристаллографических плоскостей, когда лучи, отражённые разными плоскостями этой системы, имеют разность хода, равную целому числу длин волн. Б. — В. у. можно записать в следующем виде:

2dsinJ = ml,

где d — межплоскостное расстояние, J — угол скольжения, т. е. угол между отражающей плоскостью и падающим лучом, l — длина волны рентгеновского излучения и m — так называемый, порядок отражения, т. е. положительное целое число (см. рис.).

  Б. — В. у. выполняется при рассеянии кристаллами не только рентгеновских лучей, но также g-лучей, при дифракции электронов, протонов и нейтронов.